光纖光譜儀可以測(cè)量薄膜厚度
發(fā)布日期:2018-06-28
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光纖光譜儀可以測(cè)量薄膜厚度
非常確定的說:可以測(cè)量,高利通科技的小型光纖光譜儀可以測(cè)量薄膜厚度、以及透過率檢測(cè),熒光的檢測(cè)、鏡片檢測(cè)。 將被測(cè)光耦合到光譜儀中進(jìn)行光譜分析。由于光纖的方便性,用戶可以非常靈活的搭建光譜采集系統(tǒng)。光纖光譜儀的優(yōu)勢(shì)在于測(cè)量系統(tǒng)的模塊化和靈活性。高利通科技的小型光纖光譜儀的測(cè)量速度非???,可以用于在線分析。光纖光譜儀基本配置包括包括一個(gè)光柵,一個(gè)狹縫,和一個(gè)探測(cè)器。 光譜儀的性能取決于這些部件的精確組合與校準(zhǔn),校準(zhǔn)后光纖光譜儀,原則上這些配件都不能有任何的變動(dòng)。目前,隨著光譜行業(yè)的快速發(fā)展,光纖光譜儀在國(guó)內(nèi)越來越得到認(rèn)可,其產(chǎn)品性能和質(zhì)量方面跟國(guó)外產(chǎn)品相媲美,國(guó)產(chǎn)光纖光譜儀正逐漸替代國(guó)外產(chǎn)品。